脉冲宽度对低噪声放大器微波脉冲热效应的影响

摘要：

高功率的微波脉冲可能烧毁低噪声放大器。本文研究了微波脉冲的脉冲宽度对烧毁的影响，建立了用于估算的理论模型，并通过数值求解半导体方程组对模型进行了验证。从模型中亦可看出，烧毁所需微波脉冲的功率会随脉冲宽度升高而下降，但下降速度逐渐趋缓。

关键词： 脉冲宽度 低噪声放大器 微波脉冲 热效应

作者: 陈曦 杜正伟

作者单位: 清华大学微波与数字通信国家重点实验室 北京 100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010’全国第十三届微波集成电路与移动通信学术会议

会议地点: 浙江

会议语种:中文

页码: 288-291

在线出版日期: 2010-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）