噪声用于电子元器件和电路可靠性评估

摘要：

保障整机和系统可靠性的方法之一是准确评估电子元器件和电路模块的可靠性，从而筛选出高可靠的产品。电子元器件和集成电路模块应用可靠性传统评估方法具有周期长、代价高、所需样品数量大和准确性差等问题。本文阐述基于电噪声的失效物理可靠性评估方法的基本概念和应用领域，并介绍西安电子科技大学该方向的科研成果。

关键词： 电子元器件 电路模块电噪声 失效物理 可靠性评估

作者: 杜磊 庄奕琪

作者单位: 西安电子科技大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十六届电子元件学术年会

会议地点: 昆山

会议语种:中文

页码: 132-142

在线出版日期: 2010-09-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）