基于NINO芯片的TOT读出电子学系统的研究

摘要：

本文介绍了CERN设计的一款基于过阈时间法(Time-Over-Threshold)的ASIC芯片--NINO，并列出了一些基于NINO芯片设计的测试板的测试结果，用于评估该芯片在BESⅢ端盖TOF升级及在中子管位置灵敏探测器中的位置测量中应用的可能性。NINO芯片8通道高度集成，对实验电路板的设计和测试表明，其噪声抖动低(前沿噪声抖动约5.1ps)，可以满足TOT方法中高精度时间测量的要求。

关键词： NINO芯片 放大甄别 TOT读出电子学系统

作者: 秦熙 刘树彬 安琪

作者单位: 中国科学院核探测技术与核电子学重点实验室 物理电子学安徽省重点实验室,中国科学技术大学近代物理系 中国合肥,230026

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 106-116

在线出版日期: 2010-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）