线阵计数型多能CZT成像系统的性能研究

摘要：

本文介绍了该研究小组搭建的线阵计数型多能碲锌镉探测器系统，包括我们自己制备的线阵CZT探测器，其电学性能和辐射探测性能的检测，并测试了它的耐辐射性能：用离散元件建成的多能成像的电子学系统及其性能检测;整个成像系统的性能检测结果。给出了初步的实验结果及分析讨论。

关键词： CdZnTe CdTe 计数成像 半导体探测器

作者: 张岚 李元景 郑晓翠 朱维彬 邓智 李鹏宇 胡洁

作者单位: 同方威视技术股份有限公司,北京 同方威视技术股份有限公司,北京 清华大学,北京 清华大学,北京

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 296-302

在线出版日期: 2010-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）