一种发光二极管芯片的寿命试验方法

摘要：

针对发光二极管(LED)芯片寿命试验存在的问题，提出了一种发光二极管芯片寿命试验方法。将芯片直接浸入液体中，即液体为芯片寿命试验的环境介质，从而排除了影响芯片光输出退化的其他因素。经实验证明该方法具有可操作性和实用性，为预测发光二极管芯片寿命提供了一种较为简便的试验方法。

关键词： 发光二极管 芯片 寿命试验

作者: 梁奋 陈晓玲 蔡伟智

作者单位: 厦门三安光电科技有限公司,福建 厦门 361009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国LED产业研讨与学术会议(2010’LED)

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 197-199

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）