国产功率LED的一种新的失效模式
对国产1W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现，在试验过程中发现了一种新的失效模式，即随着时间增加，正向电压VF逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了整理，发现只有国产封装的大功率LED器件存在这样的问题。VF变大，将导致结温升高，LED的结温直接决定着LED的使用寿命，而结温每升高10℃，其寿命将会减半，所以LED器件的封装工艺对LED器件的寿命有很大影响，为了消除VF变大的失效模式，生产厂家可以采用加速寿命的试验方法，验证芯片粘结工艺的好坏，这样可以早期发现这个问题，并尽早改进，从而缩短研发周期、降低工艺成本。
大功率LED 加速寿命试验 正向电压变化
黄杰 刘东月 彭浩 茹志芹 徐立生
国家半导体器件质量监督检验中心,石家庄 050051
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2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）