FPGA可配置资源测试方法研究

摘要：

FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一，随着FPGA的迅速发展，对FPGA的测试得到了广泛重视和研究，其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础，研究了基于V93000 SOC测试系统的FPGA器件测试技术，为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。

关键词： FPGA测试 可测试性设计 配置 测试向量

作者: 刘倩 吴丹 章婷 沈森祖

作者单位: 武汉数字工程研究所 湖北 武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010国防计量与测试学术交流会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 423-425

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）