X射线荧光光谱法测定铬质引流剂中化学成分

摘要：

根据铬质引流剂难熔、难以制备玻璃熔片的特点,对熔剂选择及混合熔剂比例选择、试样量与熔剂量比例选择、脱模剂选择及用量试验、熔制程序及干扰校正等试验,建立了X射线荧光光谱法测定铬质引流剂中化学成分;各成分测试标准偏差≤0.12％,与化学法测定结果无显著性差异。

关键词： X射线荧光光谱法 化学成分 铬质引流剂 干扰校正

作者: 陈德

作者单位: 攀钢集团攀枝花钢钒有限公司,四川攀枝花 617062

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 327-331

在线出版日期: 2010-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）