X射线荧光光谱法测定耐指纹板涂层中二氧化硅

摘要：

本文采用X射线荧光光谱法,以耐指纹板样品为校准样品,进行了耐指纹板有机涂层中siO2含量的测定。探讨了应用经验系数法无须基体校正,来进行薄层样品中单一组分SiO2的XRF法测量的新途径。实验结果表明:该方法简便、快速,精密度高,可以满足生产工艺和产品质量控制分析的需要。

关键词： 耐指纹板 X射线荧光光谱法 二氧化硅 校准样品 有机涂层

作者: 曲月华 王一凌 亢德华 邓军华

作者单位: 鞍钢股份有限公司技术中心,鞍山 111009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 344-347

在线出版日期: 2010-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）