WDXRF光谱法分析低合金钢多元素的应用与考察

摘要：

试验拟定了采用理学Primus型WDXRF光谱仪测定低合金钢中Si、Mn、P、S、V、Ti、Cr、Ni、Mo等元素测量方法,并考察了准确度、精密度、S、P等元素的回归方程。试验发现,Si、S、P受Mo、w、Mn等共存元素的影响,必须进行校正,而对Mn、V、Cr、Ni、Mo等元素的测量与回归计算则不需要校正,用JIS数学模型可得到满意的线性回归方程。未知样测定结果表明,同湿法(Wet)化学分析相比对,其结果相互吻合。

关键词： 波长色散X-射线荧光光谱 低合金钢 校正模型 共存元素 数学模型 线性回归方程

作者: 段东升 丁慧 张明 张志峰 王再田

作者单位: 中国兵器工业集团五二研究所理化检测中心,包头 011034 二连浩特出入境检验检疫局,内蒙古二连浩特 011100

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 362-367

在线出版日期: 2010-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）