X射线荧光分析法测定合金中的Ni和Cr

摘要：

本文论述了X荧光光谱测定高镍合金中Ni和Cr的分析方法,用理论α系数校正基体效应和谱线干扰系数L校正谱线重叠影响。方法准确度和精密度令人满意,操作十分简便、快速。

关键词： X荧光光谱法 不锈钢 α系数校正 基体效应 谱线干扰系数

作者: 韩春梅 于晟 周冠男 张颖

作者单位: 天津钢管集团股份有限公司,天津 300301

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 381-384

在线出版日期: 2010-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）