植物叶片LA-ICP-TOF-MS元素成像研究

摘要：

本文采用LA-ICP-TOF-MS固体微区分析技术对植物叶片基体和激光剥蚀参数进行了探讨,发现植物基体具有均一性这一特性,确定了激光剥蚀电感耦合等离子体飞行时间质谱仪的最佳工作参数,并初步实现了对Cu、Mn、Zn、Pb在植物叶片的元素成像,为植物学研究提供了一种微区分析新技术。

关键词： 元素成像 激光剥蚀 电感耦合 等离子体飞行时间质谱仪 植物叶片

作者: 靳兰兰 柴辛娜 胡圣虹

作者单位: 中国地质大学(武汉)生物地质与环境地质教育部重点实验室,武汉 130071

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 408-411

在线出版日期: 2010-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）