晶体硅旧组件性能与衰减原因分析
光伏组件的寿命及可靠性一直是光伏组件生产厂商及用户所关注的核心问题，光伏组件在户外的老化现象及机理一直也为人们所关心。本文介绍了近几年国内外关于组件在户外应用的老化现象及可靠性的研究，并详细介绍了中山大学太阳能系统研究所对一批使用23年、采用两种制作前电极工艺的多晶硅光伏组件的外观检查及电性能测试，分析了该组件的电性能衰减原因及绝缘安全性并对该组件的使用寿命做了估计。
光伏组件 晶体硅 前电极工艺 电性能测试 绝缘安全性
郑海兴 舒碧芬 沈辉 陈美园 梁齐兵 葛文君
中山大学太阳能系统研究所,广州 510006
国内会议
南京
中文
966-970
2010-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）