会议专题

HIT电池表面钝化技术的研究

本文采用PECvD技术沉积本征非晶硅薄膜,研究少子寿命随本征层厚度、沉积气压、射频功率、氢稀释度以及硅片清洗工艺的变化规律。结果表明:本征层厚度要适中。随着沉积气压、射频功率和氢稀释度的增加,少子寿命均呈现先增大而后减小的趋势。同时,采用HF/O3清洗技术能使少子寿命得到很大的改善。

太阳能电池 电池表面 钝化技术 非晶硅薄膜 清洗技术

陈肖静 王淑珍 王永谦 张光春 施正荣

尚德太阳能电力有限公司薄膜研发部,江苏 无锡 214028

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325-328

2010-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)