非接触式IC卡天线等效电路参数测量方法

摘要：

本文介绍了结合高频LCR测试仪器(安捷伦4285A)和扫频仪器测量得到的电路参数，推算卡上天线等效电路参数的方法。

关键词： 非接触式IC卡 扫频仪器 卡上天线 等效电路参数

作者: 刘颖

作者单位: 上海华虹集成电路有限责任公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010城市通卡发展年会暨第九届全国城市公用事业IC卡应用和技术发展研讨会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 225-232

在线出版日期: 2010-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）