可编程复杂电子硬件的内置自测试设计

摘要：

在航空电子系统中，可编程复杂电子硬件(PCEH)正越来越多地被用于实现关键的飞机功能，这对航空电子测试技术构成了新的挑战。本文分析了可编程复杂电子硬件的特点及其测试要求，并基于嵌入式技术，提出了可编程复杂电子硬件内置自测试电路(BITE)的基本结构和设计。

关键词： 航空电子 可编程电路 芯片设计 电路测试

作者: 韩国泰

作者单位: 中国航空无线电电子研究所,上海 200233

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010年航空试验测试技术峰会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 114-117

在线出版日期: 2010-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）