表面粗糙度光切显微图像配准技术研究

摘要：

本文根据测量表面粗糙度评定参数的要求和表面粗糙度光切显微图像的特点，采用一种基于相位相关的图像匹配算法，对相邻两幅粗糙度图像进行匹配。为了证明该方法的优越性，与采用模版匹配方法的结果进行了对比，结果表明，该方法拼接位置正确、拼接速度快、算法有效可行，为表面粗糙度各评定参数的正确测量提供保障。

关键词： 粗糙度测量 光切显微镜 显微图像 图像匹配

作者: 刘颖 段海峰 唐文彦

作者单位: 中关村科技园区海淀园企业博士后工作站时代集团公司分站,北京 100085 哈尔滨工业大学 自动化测试与控制系,黑龙江 哈尔滨 150001 中关村科技园区海淀园企业博士后工作站时代集团公司分站,北京 100085 哈尔滨工业大学 自动化测试与控制系,黑龙江 哈尔滨 150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010年航空试验测试技术峰会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 277-279

在线出版日期: 2010-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）