电子辐照ITO/F46/Ag热控涂层的损伤机理分析

摘要：

首先对ITO／F46／Ag热控涂层进行了电子辐照地面模拟试验，通过SEM分析发现，涂层表面发生了严重的损伤效应，有裂纹、碎片和熔蚀现象出现；接着对涂层的损伤机理进行了分析，并给出了电子辐照ITO／F46／Ag热控涂层的损伤模型；最后对有待进一步研究的问题进行了讨论。

关键词： 热控涂层 电子辐照 损伤效应 地面模拟试验 SEM分析

作者: 沈自才 冯伟泉 赵春晴 丁义刚 刘宇明 郑慧奇 赵雪

作者单位: 北京卫星环境工程研究所,北京 100094

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国空间技术研究院第二届空间材料及其应用技术学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 319-324

在线出版日期: 2009-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）