X射线图像缺陷提取方法研究

作者: 曾理 刘玲慧 向才兵 蒲云

作者单位: 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心 重庆 400044 重庆大学数学与统计学院 重庆 400044

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第九届无损检测学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 346-350

在线出版日期: 2010-09-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）