会议专题

利用现有工业CT无损检测系统进行小缺陷尺寸测量

高玉玲 刘艳萍 马燕

西安近代化学研究所十二部 029-8291961

国内会议

全国第九届无损检测学术年会

上海

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733-737

2010-09-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)