某型号伺服系统电子设备可靠性增长试验的必要性分析

摘要：

针对《建议取消某型号(文中称为型号甲)伺服系统电子设备可靠性增长试验的报告》一文的几点看法，对型号甲伺服系统电子设备可靠性增长试验的必要性进行了分析。给出了型号研制过程中在考虑继承其它型号产品，免做该产品的电子设备可靠性增长试验时须要进行的三个方面的分析。通过具体分析，得出不能取消型号甲伺服系统电子设备可靠性增长试验的结论。

关键词： 航天型号 伺服系统 电子设备 可靠性试验

作者: 李艳霞

作者单位: 北京宇航系统工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 首届中国航天质量论坛

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 272-274

在线出版日期: 2006-09-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）