ED-XRF法对镀金饰品的测定

摘要：

该文使用ＥＤ－ＸＲＦ荧光能谱仪，利用金原子在Ｘ射线激发下所发射的Ｌ〈，ｓ〉线和Ｌ〈，α〉线的强度比值来识别样品是镀金的还是Ｋ金。同时，利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度，可测镀金层厚度０￣５μｍ。最大相对标准偏差１５℅。

关键词： 镀金饰品识别 镀层厚度测定

作者: 黄近丹 郑荣华 张文芳 李叶农

作者单位: 省测试技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第九届测试技术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 467～471

在线出版日期: 1998-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）