IC设计静电失效图谱

摘要：

静电学是人们熟悉的一门古老学科，虽然已形成较完整的理论体系，但对于半导体、IC的防护，其理论与技术正处于研究和发展阶段。本文从使用微电子器件的实践中收集了一些素材，力图丰富ESD失效的解剖图片，更多地讨论ESD在微电子学方面防护模式。

关键词： 微电子器件 静电失效 防护模式

作者: 李茂隆

作者单位: 冠捷科技(北京)供应商品质保证部零件专案课

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届北京学术交流月集成电路设计及其应用国际研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 215-222

在线出版日期: 2006-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）