会议专题

以固态检测器为代表的第三代电感耦合等离子体发射光谱仪的进展评述

划分了三代ICP发射光谱仪;指出了新一代固态检测器片区曝光的特征。对大多数国际著名品牌的仪器从第二代向第三代的演变作了特性分析。对ICP-OES重要部件的进展进行了评述。对客户选购仪器既全面严格又简洁迅捷的比对实验作了介绍;强调选购时要适合本单位所检测试样性质的针对性。

电感耦合等离子体发射光谱仪 仪器选购 固态检测器 片区曝光特征 比对实验

戴亚明

上海材料研究所检测中心化学室,上海,200437

国内会议

2010年全国材料检测与质量控制学术会议

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2010-08-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)