X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数

摘要：

利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.

关键词： X射线衍射仪 全谱拟合法 碳/碳复合材料 点阵常数 石墨化度 微晶参数

作者: 王晓叶 李同起 郑斌 冯志海 李仲平

作者单位: 航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国先进功能复合材料技术学术交流会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 94-96

在线出版日期: 2010-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）