六西格码条件下的合格品链长质量控制技术

摘要：

针对现代企业质量管理实际发展的需要，讨论了一种以连续合格链长为控制对象的CRL控制图。该方法主要是通过分析CRL图控制限和两类错误及检测成本所造成总损失之间的关系，并就此建立基于两类损失和检测成本最小的控制界优化数学模型。最后分析了其相关结论，可有效地满足企业获得六西格玛质量水平的控制要求。

关键词： 六西格玛过程 连续合格链长 质量控制 CRL控制图 企业质量管理

作者: 吴德会

作者单位: 数字控制技术与应用江西省重点实验室九江学院,九江332005 电力系统国家重点实验室清华大学北京100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第29届中国控制会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 5569-5573

在线出版日期: 2010-07-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）