β-环糊精树脂富集X射线荧光法对痕量金的测定

摘要：

通过合成β-环糊精树脂，优化该树脂对样品中痕量金的富集条件，并将其制备成薄样的方法，实现了X射线荧光光谱法对样品中痕量金的测定。方法相对标准偏差2.2％(n=6)，线性范围0～800ng mL-1。该方法制样过程简单，成本低，耗时短，基体效应小，对应用X射线荧光光谱仪进行样品中痕量贵金属的测定具有重要意义。

关键词： X射线荧光法 痕量金测定 β-环糊精树脂

作者: 郑洪涛 朱园园 张随成 唐红梅 汤志勇 邱海鸥

作者单位: 中国地质大学(武汉)材料科学与化学工程学院，武汉，430000

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国X射线荧光光谱学术报告会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 71-73

在线出版日期: 2010-09-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）