一种数字IC测试仪逻辑功能测试单元的设计

摘要：

提出了一种用于数字IC测试仪的逻辑功能测试单元的设计方法。本文介绍了数字IC测试仪的系统组成及逻辑功能测试的基本原理，给出了基于FPGA的功能测试单元的设计方案，并对FPGA的设计做了详细的说明。文章还给出了基于该设计的数字IC测试实例，验证了该设计方案的可行性。

关键词： IC测试仪 自动测试设备 逻辑功能测试 测试向量

作者: 王欣 罗和平

作者单位: 电子科技大学VLSI设计中心 成都 610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009四川省电子学会半导体与集成技术专委会学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 211-214

在线出版日期: 2009-11-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）