一种通用数字ICATE的自检功能设计

摘要：

本文在充分总结ATE自检设计经验的基础上，提出一种ATE系统自检的设计方式，该方法充分利用ATE现有的硬件电路，在测试函数的基础上编写自检向量和程序。能方便可靠地检测出ATE可用的测试资源，提高了故障诊断和定位的速度与准确性。

关键词： 集成电路产业 自动测试设备 自检功能 测试程序 硬件平台 软件平台

作者: 许霁 罗和平

作者单位: 电子科技大学VLSI设计中心 成都 610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009四川省电子学会半导体与集成技术专委会学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 215-218

在线出版日期: 2009-11-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）