会议专题

布氏硬度CCD压痕自动测量系统各影响因素分析

分析了布氏硬度CCD压痕自动测量系统中光强、电压、滤光片等各种因素对测量结果的影响,通过大量试验摸索出了较为合理的匹配方案,并得到了较为理想的测量结果。

布氏硬度 CCD压痕 自动测量系统 滤光片

李金颖 石伟 徐明 陶继增 于娅楠

中航工业北京长城计量测试技术研究所,北京 100095

国内会议

2009年国防系统测力、硬度计量测试技术交流会

桂林

中文

57-58

2009-11-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)