NASICON固体电解质的制备及其导电性能研究
利用溶胶-凝胶法制备了不同x(x=1.8~2.2)值的NASICON(Na1+xZr2SixP3-xO12)固体电解质材料,采用XRD检测了样品的晶体结构,利用交流阻抗谱研究了电解质的离子电导率与测试温度及x值的关系。结果表明,所得NASICON材料均为三方结构,当x为2.0时,本体电阻最小,离子电导率最高;测试温度在25~450℃之间时,离子电导率随温度升高而逐渐增大。
固体电解质材料 离子电导率 电化学阻抗谱 溶胶-凝胶法 晶体结构
胡艳琴 王运福 宋玉哲 韩根亮 李工农 刘国汉
甘肃省科学院 传感技术研究所,甘肃 兰州 730000
国内会议
江苏镇江
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541-543
2009-11-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)