薄膜铂电阻元件的应用和检测

摘要：

在介绍了薄膜铂电阻元件的基本结构和主要生产工艺的基础上,对如何合理和正确使用与检测薄膜铂电阻元件,提出了意见和建议。

关键词： 薄膜铂电阻元件 生产工艺 薄膜结构检测

作者: 谭贵权

作者单位: 广州德力权仪表有限公司,广东 广州 510650

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009全国功能材料科技与产业高层论坛

会议地点: 江苏镇江

会议语种:中文

页码: 65-67

在线出版日期: 2009-11-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）