高可靠锁相环设计技术研究

摘要：

单粒子瞬变(SET)现象对高性能计算的影响日益严重,本文对高性能微处理器中锁相环(PLL)的RHBD(Radiation-Hardened-By-Design)加固方法进行了分析和总结,从系统级和电路级两个方面对PLL的SET加固方法进行了分类研究。分析结果表明,设计加固方法可以在较高的层次上考虑加固问题,降低了工艺依赖性,可以有效地提高PLL可靠性。

关键词： 软错误 单粒子瞬变 锁相环 RHBD加固 工艺设计 PLL可靠性

作者: 赵振宇 赵学谦 张民选 郭斌 秦军瑞

作者单位: 国防科技大学计算机学院,湖南 长沙 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年全国高性能计算学术年会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 76-79,83

在线出版日期: 2009-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）