双光路对比法测量铝的法向发射率随温度的变化
提出了一种采用双光路对比法测量物体发射率的方法，在此基础上研制了一种测量物体法向发射率随温度变化的新型实验装置。该装置由样品加热系统、信号探测与处理系统和显示系统三部分组成。利用该装置测量了光滑铝片在1.5μm波长下发射率随温度的变化，并利用测量结果分析了温度加热时间对光滑铝片发射率的影响。评定了不同温度下发射率测量结果的相对不确定度。结果表明，在728～1028K内，光滑铝片发射率的最大相对不确定度E(∈λ)=1.51％，由此引起的测温不确定度u(T)=0.857K，u(T)/T=0.116％。
光滑铝片 法向发射率 双光路对比测量 温度加热时间
刘玉芳 胡壮丽 施德恒
河南师范大学 物理与信息工程学院，河南 新乡 453007
国内会议
北京
中文
90-92
2009-08-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）