伪装记忆损害诈病的全脑功能磁共振成像研究
目的：利用全脑功能磁共振成像(fMRI)技术,探讨参与伪装记忆损害诈病的关键脑结构,及其与完全说谎(完全错误回答)的神经机制差异。方法：12名健康右利手志愿者按要求完成三种条件下(完全正确回答、完全错误回答、伪装记忆损害诈病)的两项必选数字记忆测试,同时采用Philips公司生产的Gyroscan1.5T磁共振成像系统对被试进行全脑扫描。数据经头动矫正、空间标准化、空间平滑等预处理后,通过互相关分析获得脑激活统计参数图。结果：相对于完全错误回答,伪装记忆损害诈病激活了双侧背外侧前额叶(BA9)及前扣带回(BA32),并没有发现完全错误回答激活大于伪装记忆损害诈病的脑区。结论：全脑fMRI研究表明,伪装记忆损害诈病与完全故意错误回答具有不同的神经机制,提示了两者是不同的脑认知过程。
磁共振成像 伪装记忆损害诈病 大脑功能 脑结构 神经机制
梁春雨 赵虎
510041 汕头汕头大学医学院法医学教研室 中山大学中山医学院法医学系司法精神病与心理学实验室
国内会议
第十一次全国行为医学学术会议暨广东省行为医学分会首次学术年会
广州
中文
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2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）