混合边界扫描典型元件的特性试验

摘要：

针对电子功能模件可测性设计实际实现的具体需要,本文以支持IEEE1149.4混合电路边界扫描测试的芯片STA400作为典型元件。阐述其基本内核功能和边界扫描功能的操作原理、应用方式和试验方法,并在测试其实际性能的基础上,提出了对该元件具体使用的看法,提供了颇有参考价值的试验结果。

关键词： 边界扫描测试 电子功能模件 模拟开关 可测性设计

作者: 刘思久 黄辉 李萌

作者单位: 哈尔滨工业大学 哈尔滨 150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国虚拟仪器学术交流大会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 561-564

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）