基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究

摘要：

在基因芯片分析系统中，基因芯片荧光靶点图像的正确检测识别是基因特异性表达信息提取的必要前提。在荧光靶点检测识别过程中，由于沾污、瑕疵、离焦等因素的影响，荧光靶点图像的信噪比很低，很容易将污点、基片瑕疵等噪声点误识别为荧光靶点，而将沾污的荧光靶点误识别为噪声点。在原算法基础上，为进一步降低误识别率和提高检测精度，提出基于靶点分割图像重心和H标背景面积比的改进的荧光靶点检测识别算法。实验结果表明，与原算法相比，采用新算法将正确识别率提高到90％以上。

关键词： 基因芯片分析 荧光靶点图像 图像检测识别 目标重心 目标背景面积比

作者: 刘军 赵吉宾 刘伟军 王天然

作者单位: 中国科学院沈阳自动化研究所 工业信息学重点实验室,沈阳 110016 中国科学院研究生院,北京 100039 中国科学院沈阳自动化研究所 工业信息学重点实验室,沈阳 110016

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009中国仪器仪表与测控技术大会

会议地点: 哈尔滨

会议语种:中文

页码: 899-901

在线出版日期: 2009-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）