RFID测试标准和测试现状研究

摘要：

RFID技术正被广泛关注，也日益成为下一代IT技术的焦点。许多企业、政府机关及公共事业部门等纷纷推广RFID的应用。本文介绍了RFID测试标准系统，浅谈了国内外RFID测试研究工作现状和标准的测试设备，分析了测试标准研究中遇到的问题，提出RFID测试的发展趋势。

关键词： RFID技术 测试标准系统 测试设备

作者: 田利梅 谭杰 关强

作者单位: 中国科学院自动化研究所 中国科学院自动化研究所RFID研究中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届中国标准化论坛

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 286-288

在线出版日期: 2009-04-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）