晶粒棱长、尺寸与拓扑学特征之间关系的Monte Carlo仿真研究

摘要：

采用Potts模型Monte Carlo方法研究了晶粒棱长、尺寸与拓扑学特征之间的统计关系。结果表明,晶粒棱长与晶粒面数之间呈线性统计关系,并且平均N面体晶粒模型和Poisson-Voronoi组织均支持该结论。不同时刻的晶粒长大仿真数据表明,在准稳态晶粒长大阶段晶粒棱长的分布具有自相似性。个体晶粒的平均棱长随晶粒面数(或晶粒尺寸)的增加而逐渐增大,这说明一些理论模型中采用的”不同面数的晶粒平均棱长均相等”的假设具有局限性。仿真数据和纯铁实验数据均表明,晶粒尺寸与晶粒面数之间的统计关系表现为一条单调递增的凸曲线。

关键词： 晶粒棱长 晶粒尺寸 拓扑学 Monte Carlo仿真

作者: 王浩 刘国权 栾军华 岳景朝 秦湘阁

作者单位: 北京科技大学材料科学与工程学院,北京,100083 北京科技大学材料科学与工程学院,北京,100083;北京科技大学新金属材料国家重点实验室,北京,100083 佳木斯大学材料科学与工程学院,佳木斯,154007

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国材料研讨会—计算材料分册

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 132-136

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）