谈谈电子产品的高加速寿命试验

摘要：

高加速寿命试验是一种新兴技术,适用于产品的研制阶段,本文介绍了高加熟寿命试验的本质、优势、主要试验项目,以及推行高加速寿命试验应注意的几个方面。

关键词： 高加速寿命试验 工作极限 破坏极限 电子产品

作者: 白云涛 许峰

作者单位: 西安电子工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国国防科技质量与可靠性高峰论坛

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 104-106

在线出版日期: 2010-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）