半导体器件失效案例统计与综合分析
电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件；半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析；其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。
半导体器件 失效模式 整机设计 质量管理
范士海
航天科工集团二院201所
国内会议
北京
中文
124-129
2010-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）