硅电容差压传感器性能测试中PLC对压力的控制

摘要：

原有硅电容差压传感器性能测试中压力控制方式完全采用人为操作,不仅耗时耗力,而且对性能测试的精度也存在无法估计的测试误差,为了避免这些弊端,提出了新的测试方案,该方案采用PLC控制正、负腔管路中高压电磁阀和压力传感器的方式来实现对硅电容差压传感器性能测试过程中正、负腔管路的加卸压。这样便大大地节省了人力和时间,更加有效地提高了硅电容差压传感器性能测试效率。

关键词： 硅电容差压传感器 性能测试 压力控制 PLC控制 高压电磁阀

作者: 陈玉玲 匡石 杨海波

作者单位: 沈阳仪表科学研究院,辽宁沈阳,110179 沈阳机床股份有限公司,辽宁沈阳,110142

会议类型: 国内会议

会议名称: 第11届全国敏感元件与传感器学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 279-280,320

在线出版日期: 2009-11-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）