SoC测试系统校准技术概述
本文阐述了广泛应用于国内外集成电路测试的SOC测试系统的校准技术,SOC芯片是武器装备、大飞机计划、探月工程等国防重要型号工程的核心电子器件,也是信息社会的基础和关键器件,SOC 芯片的性能直接关系到电子装备的质量,SOC芯片的测试需求对SOC测试系统的量值提出了苛刻的要求。本文介绍了国内外SOC测试系统的发展情况,并对目前主要采用的SOC测试系统校准方法进行了对比分析,在分析典型SOC测试系统性能结构、技术指标的基础上,提出了SOC测试系统的校准方案。
集成电路 测试系统 SOC芯片测试 校准方案 技术指标
王酣 赵昭 邢荣欣 李洁
中国电子技术标准化研究所计量与检测中心,北京 100007
国内会议
桂林
中文
482-485
2009-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)