SoC测试系统校准技术概述

摘要：

本文阐述了广泛应用于国内外集成电路测试的SOC测试系统的校准技术，SOC芯片是武器装备、大飞机计划、探月工程等国防重要型号工程的核心电子器件，也是信息社会的基础和关键器件，SOC 芯片的性能直接关系到电子装备的质量，SOC芯片的测试需求对SOC测试系统的量值提出了苛刻的要求。本文介绍了国内外SOC测试系统的发展情况，并对目前主要采用的SOC测试系统校准方法进行了对比分析，在分析典型SOC测试系统性能结构、技术指标的基础上，提出了SOC测试系统的校准方案。

关键词： 集成电路 测试系统 SOC芯片测试 校准方案 技术指标

作者: 王酣 赵昭 邢荣欣 李洁

作者单位: 中国电子技术标准化研究所计量与检测中心，北京 100007

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 482-485

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）