基于Credence Gemini500的内嵌式AD转换器测试方法研究

摘要：

本文中应用 Credence公司的Gemini500测试系统对某一SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试。根据芯片功能分析和封装形式，对测试板进行了优化设计。根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计。

关键词： 内嵌式 AD转换器 测试向量 Gemini500测试系统 SoC芯片

作者: 鞠家欣 姜岩峰 杨兵 张晓波 于韶光

作者单位: 北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100144 北京自动测试技术研究所 北京 100088 北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100144 北京自动测试技术研究所 北京 100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 494-497

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）