混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现

摘要：

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准，同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术，该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障，还可以测试芯片的逻辑功能。文章以IEEE1149.4标准为基础，结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证，完成对混合信号电路的参数测试。

关键词： 混合信号集成电路 边界扫描测试 可测试性设计 边界扫描单元

作者: 杨兵 姜岩峰 张东

作者单位: 北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100144 北京自动测试技术研究所 北京 100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 498-503

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）