会议专题

混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。文章以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。

混合信号集成电路 边界扫描测试 可测试性设计 边界扫描单元

杨兵 姜岩峰 张东

北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100144 北京自动测试技术研究所 北京 100088

国内会议

第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

桂林

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498-503

2009-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)