混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现
IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。文章以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。
混合信号集成电路 边界扫描测试 可测试性设计 边界扫描单元
杨兵 姜岩峰 张东
北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100144 北京自动测试技术研究所 北京 100088
国内会议
桂林
中文
498-503
2009-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)