基于模拟集成电路BIST的ARMA模块设计

摘要：

针对模拟集成电路在线测试困难的特点，本文基于BIST结构对模拟集成电路的测试提出了一种新的测试方案，这种算法在测试电路中易于实现，并且容易嵌入到待测芯片中，为模拟集成电路可测试性设计提出了一种新的测试结构和测试算法。

关键词： 模拟集成电路 BIST结构 ARMA模块 在线测试

作者: 姜岩峰 鞠家欣 张晓波 杨兵 于韶光

作者单位: 北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100041 北京自动测试技术研究所 北京 100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 504-508

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）