基于AVR多机系统的LED测试仪研制

摘要：

LED作为第三代半导体光电器件其独特的优势得到了世界各国的广泛关注.针对目前国内LED测试设备的不足,本文提出了一种基于AVR多机系统的LED测试仪设计方案.在介绍LED的测试原理的基础上,详细说明了测试系统的硬件和软件设计,并对测试结果进行了分析.经过实际生产验证,该LED测试仪能够快速准确的测量LED电学特性参数,操作简便,性价比高,目前已经投产使用。

关键词： LED测试仪 半导体光电器件 AVR多机系统 数控恒流源 软件补偿 开关阵列

作者: 梁坤 胡鸿志 郭庆

作者单位: 桂林电子科技大学电子工程学,院桂林,541004

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 333-336

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）