SRAM型FPGA测武技术及ATE实现

摘要：

随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要。本文介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。

关键词： 自动测试系统 多逻辑单元 混合故障 可编程逻辑资源 现场可编程门阵列

作者: 王子云

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川 绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十四届学术年会

会议地点: 四川雅安

会议语种:中文

页码: 16-22

在线出版日期: 2009-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）