N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用

摘要：

通过N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析，对比了进行不同时间室温老化实验的样品反射率波谱。对反射率进行计算拟合，得到OLED的多层膜结构信息。对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比，发现对于结构为ITO/NPB/Alq3/LiF/Al的器件，主要是Alq3和LiF层发生变化引起器件失效。由此也证明N&K多功能薄膜分析仪是有效的OLED失效分析手段。

关键词： 电致发光器件 薄膜分析仪 失效分析 OLED结构

作者: 陈柳 俞宏坤 曾韡 彭雅芳

作者单位: 复旦大学 材料科学系,上海 200433

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国平板显示学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 167-170

在线出版日期: 2010-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）