a-Si薄膜晶体管逻辑电路的可靠性仿真与研究

摘要：

本文提出了一种对a-Si薄膜晶体管逻辑电路可靠性进行仿真的方法，并对两种不同的反相器电路进行了分析和比较。结果表明，虽然bootstrap反相器初始直流输出特性较好，但是长时间运行后由于电路中薄膜晶体管器件阈值电压的漂移，其输出特性恶化的程度要大于正常形式的反相器电路。

关键词： 反相器 a-Si薄膜晶体管 逻辑电路 仿真分析

作者: 刘如 崔晴宇 郭小军 苏翼凯

作者单位: 上海交通大学,上海,200240

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国平板显示学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 292-295

在线出版日期: 2010-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）